植物根系分析儀系統(tǒng)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

植物根系分析儀系統(tǒng) 型號(hào)：HAD-SLX用于對(duì)洗凈的植物根系行多參數(shù)快速分析
可分析測(cè)量：
1）根總長(zhǎng)；
2）根平均直徑；
3）根總面積；
4）根總體積；
5）根尖計(jì)數(shù)；
6）分叉計(jì)數(shù)；
7）交疊計(jì)數(shù)；
8）根直徑等分布參數(shù)；
9）可不等間距地自定義分段直徑，自動(dòng)測(cè)量各直徑段長(zhǎng)度、投影面積、表面積、體積等，及其分布參

產(chǎn)品型號(hào)：HAD-SLX

更新時(shí)間：2018-08-29

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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植物根系分析儀系統(tǒng) 型號(hào)：HAD-SLX

HAD-SLX型植物根系分析儀系統(tǒng)用于對(duì)洗凈的植物根系行多參數(shù)快速分析
1、HAD-SLX型可分析測(cè)量：
1）根總長(zhǎng)；
2）根平均直徑；
3）根總面積；
4）根總體積；
5）根尖計(jì)數(shù)；
6）分叉計(jì)數(shù)；
7）交疊計(jì)數(shù)；
8）根直徑等分布參數(shù)；
9）可不等間距地自定義分段直徑，自動(dòng)測(cè)量各直徑段長(zhǎng)度、投影面積、表面積、體積等，及其分布參數(shù)；
10）根尖段長(zhǎng)分布；
11）能行根系的顏色分析，確定出根系存活數(shù)量，輸出不同顏色根系的直徑、長(zhǎng)度、投影面積、表面積、體積；
12）能行根系的拓?fù)浞治?，自?dòng)確定根的連接數(shù)、關(guān)系角等，可單自動(dòng)分析主根或意支側(cè)根的長(zhǎng)度和分叉數(shù)等；自動(dòng)分析根系分伸展的等分布情況，可達(dá)到5側(cè)根的自動(dòng)分析；
13）可單顯示標(biāo)記根系的意直徑段相應(yīng)各參數(shù)（分檔數(shù)、檔直徑范圍意可改）；
14）大批量的自動(dòng)根系分析，可對(duì)各自動(dòng)分析結(jié)果圖行編輯修正；
15）能用盒維數(shù)法自動(dòng)測(cè)根系分形維數(shù)；
16）能行根的分叉裁剪、合并、連接等修正，修正操作能回退，以快速獲得正確的結(jié)果。度：根長(zhǎng)≤±1%；面積：優(yōu)質(zhì)圖像質(zhì)量時(shí)<1%，標(biāo)準(zhǔn)圖像質(zhì)量時(shí)≤3%；
17）匹配門的雙光源照明系統(tǒng)，提供分辨率的彩色或黑白圖像，去除了陰影和不均勻現(xiàn)象的影響，有效保證圖像質(zhì)量；
18）采用非統(tǒng)計(jì)學(xué)方法測(cè)量計(jì)算出交叉重疊分根系長(zhǎng)度等，可保存或讀取TIFF、BMP、PNG、JPEG、PCX標(biāo)準(zhǔn)格式的圖像。
19）可兼做針葉面積、體積測(cè)量，以及棉纖維粗細(xì)、長(zhǎng)度測(cè)量。
2、人輔助修正：圖像可放大縮小和局觀察，可實(shí)現(xiàn)鼠標(biāo)區(qū)域選擇統(tǒng)計(jì)、對(duì)污染區(qū)的輔助裁剪或橡皮擦修正。
3、統(tǒng)計(jì)效果監(jiān)視：監(jiān)視和修正植物對(duì)象分析的度。
4、自動(dòng)雜質(zhì)剔除：根據(jù)尺寸等方面的區(qū)別，行自動(dòng)雜質(zhì)剔除。
5、輔助測(cè)量能：

尺寸標(biāo)定：自帶標(biāo)定能，實(shí)現(xiàn)半自動(dòng)的尺寸標(biāo)定，XY向可分別標(biāo)定修正；
長(zhǎng)度測(cè)量：具有跟隨放大鏡能，通過鼠標(biāo)拖動(dòng)測(cè)量；
6、數(shù)據(jù)導(dǎo)出
分析圖像、分布圖、結(jié)果數(shù)據(jù)可保存，分析結(jié)果輸出至Excel表，可輸出分析標(biāo)記圖HAD-SLX型標(biāo)配光學(xué)分辨率4800×9600、A4加長(zhǎng)的Microtek ScanMaker i800雙光源彩色掃描儀，大分析測(cè)量面積：反射稿為A4加長(zhǎng)幅面（35.6 cm×21.6 cm），掃描根面積30 cm×20 cm，可分辨的小尺寸0.008 ×0.008 mm。植物圖像分析測(cè)量度（由掃描儀決定，可軟件分校正）：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；長(zhǎng)度測(cè)量重現(xiàn)性誤差<±0.25%；面積測(cè)量重現(xiàn)性誤差<±0.25%；臺(tái)間測(cè)量差異<±0.25%。測(cè)量分析時(shí)間：30~60秒。用戶需另配計(jì)算機(jī)。
注：若需大幅面分析，請(qǐng)選配：光學(xué)分辨率2400×4800dpi、A3的Microtek Phantom 9900XL plus掃描儀。

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